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锻jian探伤方法和探测条jian如何选择

发布时间: 2018-11-09 17:18   4073 次浏览
  按探伤时间分类,锻jian探伤可分为原材料探伤和制zao过程中de探伤,产品检验及在役检验。原材料探伤和制zao过程中探伤de目deshi及早发现缺xian,襶uan慵笆辈蓂u措施避免缺xian发zhan扩大zao成bao废。产品检验de目deshi保证产品质量。在役检验de目deshi监督运行后可能产生或发zhande缺xian,主要shi疲劳裂纹。
  
  1.zhou类锻jiande探伤
  
  zhou类锻jiande锻zaogong艺主要shi以ba长为主,因而大部分缺xiandequ向yuzhou线平行,此类缺xiande探测以纵波直探头从径向探测效果较hao。考虑到缺xianhuiyou其它de分布及qu向,因此zhou类锻jian探伤,还应辅以直探头zhou向探测和斜探头周向探测及zhou向探测。
  
  2.饼类、碗类锻jiande探伤
  
  饼类和碗类锻jiande锻zaogong艺主要以镦粗为主,缺xiande分布主要平行于端面,suo以用直探头在端面探测shi检出缺xiande较hao方法。
  
  3.筒类锻jiande探伤
  
  筒类锻jiande锻zaogong艺shixian镦磟heng蟪蹇祝俟鲅埂R虼耍眡iandequ向比zhou类锻jian和饼类锻jian中de缺xiandequ向复杂。但由于铸锭中质量较差de中心部分yi被冲孔时去chu,因而筒类锻jiande质量一般较hao。其缺xiande主要qu向仍yu筒体外yuanbiao面平行,suo以筒类锻jiande探伤仍以直探头外yuan面探测为主,但对于bi较houde筒类锻jian,须jia用斜探头探测。
  
  接xia来jiushi探测条jiande选择:
  
  锻jianchao声波探伤时,主要使用纵波直探头,晶片尺寸为Φ14~Φ28mm,常用Φ20mm。对于较xiaode锻jian,考虑近场区和ou合sun耗原因,一般采用xiao晶片探头。you时为了探测yu探测面成一定qingjiaode缺xian,也可采用一定K值de斜探头进行探测。对于近距离缺xian,由于直探头de盲区和近场区de影响,常采用双晶直探头探测。
  
  锻jiande晶li一般比较细xiao,因此可选用较高de探伤频率,常用2.5~5.0MHz。对于shao数材质晶li粗大衰jian严重de锻jian,为了避免出现“林状回波”,提高信zao比,应选用较dide频率,一般为1.0~2.5MHz。